由于二氧化硫及许多稀有气体在253.7nm附近对谱线有显著的吸收，因而会对测汞仪工作过程产生干扰，这时我们就可以通过一些方法来有效的消除。
①利用贵金属捕集器使汞被截留，使干扰气体逸去；
②使样品气流分成两股，将一股中的汞事先移除，然后比较同一光源通过两个吸收室时的输出；
③利用压致展宽效应，将通过吸收室后的光线分成两股，一股再通过饱和汞蒸气室，然后测量两股透出光线强度的比值；
④利用“塞曼效应”，比较在光源上施加磁场与不加磁场时，通过吸收室的光线强度的比值。根据实用上的要求，已制成了装在汽车及飞机上进行连续测定汞的仪器，以及能就地进行测定的轻便背包式的测汞仪等。